XYRSA光电探测器相对光谱响应测试系统

    XYRSA光电探测器相对光谱响应测试系统对于可见光波段的光学检测技术，光传感器是重要的环节，本系统用于各种材料的光电探测器可见光波段的光谱响应特性测试，为光学检测系统研发提供重要的设计参数。例如通过对硅光电探测器进行光谱响应特性检测和评价，可以以硅光电探测器为基础结合光学滤光器实现模拟人眼的光照度传感器。

技术指标:

• 波长范围：380nm－780nm

• 波长准确度：±0.2nm

• 波长重复性：±0.1nm

• 采样间隔：5nm

• 相对光谱响应测量精度：±0.2％（采用NIST、PTB、NIM标准）